MEMS CIS Probe Card
이미지 센서는 빛 에너지를 전기 에너지로 변환하여 이미지를 생성하는 장치로, 카메라의 필름과 유사한 기능을 합니다.
CIS Probe Card는 광원 테스트에서 빛의 확산 여부에 따라 디퓨저 타입과 렌즈 타입으로 분류됩니다.
KI의 Sirius Series는 테스트중 짧은 스크럽 마크를 만들어 냅니다. 또한 당사의 세계 최초 Dutlet 구조를 적용하여 모든 DUT 특성을 균일하게 측정합니다.
Sirius
- Application
- CMOS Image Sensor
- Features
- Up to 64 DUT+ Image Test
- All DUT Characteristic Uniformity
- Min. 60㎛ Pad Pitch
- > 20 Gbps
- Optical Lens Module available
- Short Scrub Mark
- Probe Re-bonding available
- Delivery
- TAT : New order 8weeks, Repeat order 6weeks